治具定做_惠东治具_精准通

      IC测试座(芯片测试插座)是对IC器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。如翻盖式测试座包括底座和上盖，底座和上盖间通过卡口固定卡合，上盖通过弹簧与底座形成弹性铰链，底座上设有芯片放置区。测试前首先搬开卡口，上盖在弹簧的作用下自动弹起，然后要将芯片放置在芯片放置区，较后盖好上盖，将装好的这个IC测试座放到芯片测试仪上进行后续测试。

   探针是IC测试治具中非常重要的一个部分，那么IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？

   IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几种类型。W，ReW弹性一般，*偏移，粘金屑，治具定做，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。而A+材质的免清针，这种材质弹性较好，过炉治具，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

   IC测试治具的探针主要用于PCB板测试，主要可分为弹簧针(**针)和通用针。

  弹簧针在使用时，需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，惠东治具，一个模具只能测试一种PCB板；   通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，测试治具，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。

IC测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的IC测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。