关于IC使用寿命,许多公司都有自己的标准来确定产品的质量。
老化测试是系统组件在投入使用之前(并且通常在系统与这些组件完全组装之前)运行的过程。这个测试过程将强制在监督条件下发生某些故障,以便了解产品的负载能力。
目的是检测那些由于部件可靠性的初始高故障率部分而失败的特定部件。如果预烧时间足够长(并且可能人为压力),那么一旦完成预烧过程,系统就可以被信任为基本没有进一步的早期故障。
从理论上讲,任何微弱的部件在“老化”时间内都会失效,从而允许更换这些部件。更换薄弱的部件将防止过早失效,失败或存在其他潜在缺陷
当应力的等效寿命延长到故障率曲线的增加部分时,老化的影响是产品寿命的缩短。在成熟的生产中,确定是否存在降低的故障率并不容易。为了确定非常低百分比的生产失败时间分布,人们必须销毁大量的设备。通过强调所有设备一定的老化时间,具有高故障率的设备首先出现故障,并且可以从队列中取出。因此,通过应用老化,可以避免由于老化过程而导致的产量降低(折衷)而提前使用的系统故障。
如果可能的话,电子测试治具,消除早期故障的根本原因,而不是进行老化。正因为如此,使用老化的过程可能会逐步淘汰,因为找出并消除各种故障的根本原因。
对于电子元件,老化常常在升高的温度和可能升高的电压下进行。这个过程也可以被称为热浸。这些组件可能正在进行连续测试或者在老化期结束时进行简单测试。
FCT功能测试治具可以根据客户的特性进去设计,按控制模式的不同,可划分为全自动控制功能测试、半自动控制测试、手动控制功能测试,那么FCT功能测试治具是怎么进行结构设计的呢?
FCT功能测试治具结构设计:
1、FCT功能测试治具的定位要准确,连接器的对接应畅顺,同时内部而已要合理,布线的安装控制系统的空间要充足,预留的接口位置也应正确,足够,测试治具厂,布局合理。
2、按键刻字需明确每个按键及开关的用途和作用,按键较大,如急停开关类 ,自动化测试治具,需加白色赛钢保护,测试治具,赛钢高度不得低于开关弹起高点。
3、FCT功能测试治具的箱体锁合应采用箱包扣或者压扣等方式便于更换部件和维护,光纤/MIC/SPK/SIM卡模拟插卡位应预留,且位置准区。
4、根据测试板及测试要求,选择好控制方式后即可进行治具机构设计,设计载板,压板,连接器模块等,设计时必须考虑 功能 使用寿命,可操作性,美观等要点,要做到测试稳定 使用寿命长, 外型美观 人性化操作。
5、治具需使用绿黄色底线,长度80-100CM,一段装鳄鱼夹另外一段装圆形或者钳形端子。