发展IC测试治具的整体解决方案
在过去几十年里,FCT测试治具,芯片在人们的生活中所起的作用越来越重要,芯片产品的质量和可靠性也就愈发明显。为了满足和**过客户的期望,满足产品的可靠性标准,芯片厂商需要在生产工艺中加入一些特殊的检测程序。“因此,IC测试治具是整个IC设计、流片、应用过程中不可或缺的一环,测试治具,采用各类专业的IC测试治具等工具,可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。
据了解,采用IC测试治具的测试可分为物理性外观测试、IC功能测试、化学腐蚀开盖测试、可焊性测试、直流参数(电性能)测试、不损伤内部连线测试、放射线物质环保标准测试以及失效分析验证测试等。深圳市鸿怡电子有限公司专业研制、开发、生产各类IC测试治具,并向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案,测试治具加工,适用于多种封装:BGA、PGA、QFN、GCSP、CLCC、QFP、TSOP……
测试治具是一种具备功能测试的工装夹具,IC测试治具采用顺序控制的自动化测试,通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。那么测试治具对比人工测试有哪些优势呢?下面小编就来给大家总结如下:
一:大大提升品质。减少产品的不良率,提高企业形象。
二:*检修出不良的产品,测试治具有多种测试技术,测试治具厂,高度的可靠性,检测不良品种、且准确。
三:缩短测试时间,一般组装电路板如约300个零件ICT的大约是3-4秒钟。
四:测试结果的一致性,测试治具的质量设定功能,能够透过电脑控制,严格控制质量。
五:减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成品率。